如题，现有参数为直径40mm，额定阻抗16欧，额定功率20mW，最大功率30mW（对于耳机而言其实用不到这么大的功率，一般耳机在1mW下测试）的微型扬声器，我的做法是把后侧调音纸撕掉，让振膜后侧通过开孔与大气直接相通，通过测量9组阻抗曲线直接导入LEAP5 进行参数求取，请问这样可行吗？需要注意哪些事项？

我用恒压法测量阻抗曲线，测试电压分别为20mV，60mV,100mV，100mV（附加0.11g质量），140mV，180mV，220mV，260mV，300mV。共九组。

我的疑问如下：

1. 辅加质量采用胶水直接粘在振膜上，可惜这样做的缺点是附加质量后SPK就不能竖直起来进行阻抗测量，不知是否还有更好的方法？

2.Xcoil和Xgap处如何设置，Xcoil我实际测量得到了，但是Xgap我发现微型SPK和普通的扬声器的磁隙差别很大，不知该如何填写？

谢谢！

理论上是可以，但测试结果如何？

你想用耳机扬声器去做音箱？

Xgap，是多少就是多少，微型的确实比普通的小很多，一般仅有0.2-0.5mm

测试微型扬声器的参数，个人还是建议使用附加容积法或者激光测试。

附加质量，已经改变了振膜的特性，并且很难附加。