-- 作者:xiushuicunren
-- 发布时间:2014-11-8 10:05:06
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楼主:
我也模拟你的情况做了一点测试,发现和测试距离和测试高度基本“不相关”,那个谷还是很明显。
关于这个中频谷,常见的说法是“由于折环发生较严重的共振,从而发出较大的声波。当这个声波和单元的振膜发出的声波在单元前方某处相遇的时候,由于相位问题而发生了干涉,形成了一个较深的谷”。
所以,当测试的距离不同的时候,路程差不一样,形成相位相反的频率也不一样,所以中频谷的频率也会有一点差别。因为折环的共振频率是一个范围,不是一个点,所以中频谷在不同的测试距离是应该有一点点差别的。
看来是单元本身的问题。
不知道现在有什么进展了?
此外,有的人说中频谷是由于振膜发生分割振动而产生的。如果是这样的话,测试距离不同一个不会有这样的差别的吧?
[此贴子已经被作者于2014-11-16 09:52:19编辑过]
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