以文本方式查看主题 -  声学楼论坛  (http://nju520.com/bbs/index.asp) --  微型电声器件设计室  (http://nju520.com/bbs/list.asp?boardid=27) ----  高泄露测试条件下失真改善  (http://nju520.com/bbs/dispbbs.asp?boardid=27&id=13382)

--  作者：zuiailgl --  发布时间：2008-6-23 17:09:46 --  高泄露测试条件下失真改善 各位请参考附件 测试条件为１７９mV　ＴＹＰＥ３.２高泄露仿真耳 产品为１２*０６受话器 在产品的Ｆ０处　约５００Hz  出现一个比较大的失真峰 经过测试　此处的三次谐波有问题　８００HZ处的二次谐波有问题　各位有没有遇到过类似的问题的　 造成这样情况　大多是何种之原因 调试过振膜多次了　没有任何改进　峰的高度也很稳定　但是如何更改磁路呢　目前正苦于没有方案 特此求助　  下载信息  [文件大小：   下载次数： ] 点击浏览该文件:thd1.pdf

--  作者：samjxz --  发布时间：2008-6-23 17:11:33 --   这种失真有多少

--  作者：zuiailgl --  发布时间：2008-6-23 17:14:04 --   楼上的想问什么　不太明白　 是失真数值　还是什么？

--  作者：水仙 --  发布时间：2008-6-23 17:23:51 --   此主题相关图片如下：thd1.jpg