因为微型扬声器的振膜很薄很轻(量级属于0.1g的水平)，在上面附加质量其实不是太方便。如果附加质量的话请大家想想应选用什么物质进行附加（橡皮泥就算了吧）？我曾经尝试的方法是附加胶水，涂在音圈和振膜结合处的凹槽内。因为Mms本来就很小，所以对附加质量的要求也要很精确，要精确到0.01g，这样的话就需要一个很精密的电子秤（好点的电子秤都可以达到此要求）。操作过程是先把未附加胶水的SPK放在电子秤上，秤得重量为a，小心附加胶水（假设附加0.1g）到重量变为a+0.1g即可。最好能让胶水在凹槽处分布均匀，不管是在附加胶水的过程中还是附加结束后任其流动扩散。这样就可以测量啦！测量完成后振膜表面的胶水可以用注射器冲洗干净。大家还有别的东西可以作为附加材料来使用吗？欢迎交流。

我的问题是以上的附加质量法对微型扬声器的Cms影响大吗？因为根据公式最好保持Cms不变，只是在Mms基础上增加一个小的质量delta m，来求取Mms。

上面的附加质量法对直径大点的微型扬声器（30mm、40mm）还可以，对于直径再小的（10mm）也很难实施。而附加容积法对所有直径的微型扬声器都差不多可以实施。

此主题相关图片如下：snap1.jpg

上图是从Klippel一篇技术文档中截取的对附加容积法的评论。为了实现准确地改变、读取体积，Klippel推荐使用注射器（前端削去）。对于上图所说的附加容积法的缺点我的理解如下：并提出了我的一些疑问。

1.高度依赖有效辐射面积Sd的准确数值

对此不是太理解，使用Sd的地方无非是求Vas，但是所有的方法，不管是附加质量法还是激光测量振幅法，最终都是根据公式Vas=pc^2*Cms*Sd^2来求取的，那这样说来所有的方法求取Vas都高度依赖Sd了，这算是附加容积法自己的缺点？还是此处另有所指？请指教。虽然Klippel给出了准确测量Sd的方法，但是我认为此处说的理由不是太成立。

2.扬声器内部残留的空气不能被考虑到

这个缺点是和上图对应的，图中扬声器的振膜朝外，这个残留空气体积是可以通过3D图来求取吗？如果可以的话，第二个缺点也就很容易解决了。如果不可以的话（SPK的3D图不容易搞到或者无相关方法？），可否往里通过注水来测量残余空气体积？关键是振膜朝里和朝外的差别是什么？Mmr会有所不同吗？我只知道振膜前的空间体积也需要计算进去。另外不去计算这个精确的小体积，而改用差分方法可以吗？差分方法是先在注射器的一定刻度处测量，然后改变确定的体积，根据改变的体积和Fs的改变来求取Mms。可否？

3.需要密封的振膜

微型扬声器的振膜密封性很好，不漏气。

4.不可以用来在无空气负载的情况下测量振动质量

无空气负载需要在真空罐中测量，附加容积法确实不可实施，前面讲到的附加质量法可以施行。

5.浪费时间

就测量时间来看，如果用Multitone信号测试的话（AP和SoundCheck都有此种激励信号），1s就可以给出测试结果。此处主要是指需要进行两次测量，而激光法只需要进行一次测量，而多出的第二次测量附加容积较浪费点时间。

奚工，红色的部分是我存在疑问的地方，可否帮忙解答一下。谢谢！

微型扬声器中小孔的阻尼和声质量影响较大，要测试TS参数采用附加质量或附加容积法都不会很准。

可以考虑先建立起微型扬声器的模型，然后再测试拟合。

直接测量可考虑真空中附加质量法