喇叭功率测试新标准———EIA-426-B

         （EIA ----Electronics Industries Alliance）

1998年前喇叭功率测试标准为EIA-426-A。制定此标准的目的是为检测喇叭在额定功率下常时期工作的能力。

测试信号用白噪声。频带范围是40-318 Hz。用6dB的通频滤波器滤波，信号的峰值限定在2×RMS。（即有效值的二倍）

喇叭的额定功率为（Vrms）²／Reff，Reff=DCR* 1.15

测试时间为8小时

若8小时以后，喇叭在1/2 Vrms(1/4额定功率)下试听无杂音，即通过了测试。

1998年后，EIA-42-A虽然还在沿用，但新标准 EIA-426-B正在逐步取代它, 为多数欧美国家所采用。

EIA-426-B提出了连接喇叭的功率放大器的最大功率的概念。

这个最大功率或者叫最适配(最佳)功率（Optimum amplifier power）是由寿命测试（Life test），失真测试（distortion），功率压缩测试(power compression) 三项测试的结果来决定的。

EIA 426-B 测试设备

1. EIA-426-B功率测试信号CD

2. 功率放大器

3. 带宽为40-10kHz的RMS真值电压表

4. 40-10kHz声音正弦波发生器

5. 1/3倍频的信号频率分折仪，具有谐波分析功能

6. 在40—10kHz额率范围频响误差±0.5dB，最大声压达140dB的麦克风及前置放大器

7. 20dB的衰减器

EIA 426-B测试条件

测试室环境温度25±5℃，相对湿度20％～80％，测试者应戴耳朵防护罩

EIA-426-B测试程序

1.用1kHz信号校准功放功率

2.功率压缩测试

3.失真测试

4.加速寿命测试(Accelerated Life Test)

关于1kHz正弦信号

1kHz纯正弦信号用来校准功放，信号形式如图，前后四个周期加有半汉恩（half Hann）窗。

用此信号校准的结果适用于以后各项测试

测试电压的计算：√功率×额定阻抗

如喇叭额定阻抗为8Ω，所施功率为100W。

测试电压为V＝√100x8 ＝ √800＝ 28.3 Vrms

功率压缩测试

此测试目的是考察喇叭的声音输出在适配功率下的被压缩的程度

测试信号：　使用的测试信号是如图的组合信号

前半段由40H_z到1kH_z是对数扫描，时间是从0到0.1925秒。

从1kH_z到10.25kH_z是平方扫描，时间是从0.1925秒到0.25秒。（扫频速率在40-1kH_z时与频率对数成正比，在1kH_z-10kH_z时与频率的平方成正比）

后半段与前半段正好相反，两段信号对接起来即可。

时间一共延续0.5秒。所以选时长为0.5秒目的是使信号足够快，不致将高音喇叭烧掉，又不能太快而产生不了变调。

功率压缩测试的步骤

1.将麦克风置于接近喇叭的位置

2.将功放调到最适配的放大功率的1/100即－20dB的位置

3.用实时分析仪(real time analyzer)（或Clio等代替）记录喇叭输出频谱作为参考频谱。

4.将输入功率提高到最适配功率以下6dB（即1/4适配功率）试听失真并观察频谱，如果只听到最小的失真，转入下一步，若失真

较大则停止试验。

5.缓慢提升功放到最适配功率，直到功率压缩现象出现（声压级相对参考频谱下降超过6dB）。

6.将测试信号输入延续1分钟，记录输出频谱。

7.如果在40—10kH_z，每1/3倍频频率的范围内（或由制造商认定的带宽内）没有出现大于6dB的输出功率的减少，则喇叭测试通过。

失真测试

失真测试是检测嗽叭在施以适配功放功率时，在1/3倍频频率频带上的谐波失真大小。

步骤如下

1.将麦克风置于靠近喇叭或喇叭前正轴方向的一定位置上

2.输入正弦测试信号，缓慢提升功放到最适配放大功率

3.用实时分析仪（或clio等）观察频谱

注意：将测试时间限定在数秒之内，以免正弦信号将高音喇叭烧掉

4.如果测得的总的谐波失真在确定的频段内小于基本曲线，即通过测试。或者如果在每个频段谐波失真都不超过基本曲线3dB即通过测试

加速寿命测试

此项测试是考察喇叭在施以二分之一适配放大功率条件下运行8小时后有没有出现不可逆转或不能接受的参数的变化

测试信号：测试信号用高斯噪声（Gaussian noise），峰值因子为6dB，噪声的波段为40H_z到10kH_z， 从40H_z到1kH_z频率曲线为平直，从1kH_z到10kH_z每倍频频率下降3dB。40H_z以下至少用6阶高通滤波器限定，10kH_z以上至少用4阶低通滤做器限定。如下图

寿命测试步骤

A预测：正式测试前先进行预测

1、用1kH_z信号将功放输出电压调到适配放大功率电压以下3dB即0.707倍。

2、此时输入寿命测试信号，输入功率即为适配功率的1/4，即－6dB

3、连续测试1小时

4、待磁铁冷却到35℃以下，记下喇叭的谐振频率作为参考。

B实测

1、用1kH_z信号调整功放为适配放大功率

2、8小时内给喇叭不间断地以1/2 适配功率输入寿命测试信号

3、8小时后，给喇叭至少1小时的恢复期和磁铁温度降到35℃以下，对喇叭在1/4功率（1/2测试电压）条件下，从40H_z到10kH_z（或按制造商的规定）进行正弦波扫描

4、如果：①没有听到因功率测试而造成的噪声

           ②喇叭无结构性损坏

           ③谐振频率没有比预测时测的参考频率低10％

则寿命测试通过。

***如果用ALMA的CD放音,注意不同音轨的声压级的不同，例如，用1000Hz信号把功放调到适配功率，去放寿命测试信号(音轨2)，因该信号比校准信号低3dB，功放输出就只有1/2适配功率

谢谢楼主.

EIA-426-B标准的讨论有必要.

详细资料,我们这儿的资料室也有.

我所知道的是这样:

1.国内已有扬声器厂家做了有关的工作,比如深圳东原.

2.欧洲方面有专家不认为这个是有多少新价值,

毕竟这是美国方面的标准,还没为IEC接受.

尽管如此,我个人认为对这个标准有研究的必要.

一个疑惑?

426-B的出现原由是什么?

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另外,请楼主能理解这儿用词的规范,对产品的称呼,我们这儿是尽量靠国标,

所以是还是有请用扬声器这个词.

参看

http://www.nju520.com/bbs/dispbbs.asp?boardID=6&ID=2314&page=1

希望有讨论,比如为什么要用这个标准?

我的一个解释是:因为用户需要.

其它呢?

一个老兵：

前辈！能不能给解释一下EIA的信号啊？我们的手机喇叭功率寿命试验大多用的是EIA信号，听说EIA信号是滤掉了白噪声的低频和高频段，是这样吗？而且这种信号的波动很大，大概在10%左右，做大功率的寿命试验时，测试盒的温度很高，温度对测试过程会有多大影响呢？需要控制温度吗？样品摆放时有没有什么说法呢？比如：是带网的一面朝上！

如果是手机的话,FEI版主和其它是比我更合适的解释者,你的问题能不能单独写个帖子发到手机扬声器室呢?

FEI??

The signal is band limited to cover the range from 40Hz to 10kHz this Gaussian random noise\'s spectrum is flat from 40 to 1 kHz ,and rolls off at -3dB/oct from 1 to 10 kHz .the crest factor is set to 6 dB by a soft-clip operation that simulates symmetric diode clipping and as a result the noise exhibits a truncated Gaussian amplitude distribution.

收藏

不错，收藏了，谢谢楼主1

学习

太感谢了