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主题:高泄露测试条件下失真改善

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高泄露测试条件下失真改善  发帖心情 Post By:2008-6-23 17:09:46 [显示全部帖子]

各位请参考附件
测试条件为179mV TYPE3.2高泄露仿真耳
产品为12*06受话器

在产品的F0处 约500Hz  出现一个比较大的失真峰 经过测试 此处的三次谐波有问题 800HZ处的二次谐波有问题 各位有没有遇到过类似的问题的 
造成这样情况 大多是何种之原因

调试过振膜多次了 没有任何改进 峰的高度也很稳定 但是如何更改磁路呢 目前正苦于没有方案
特此求助 
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  发帖心情 Post By:2008-6-23 17:14:04 [显示全部帖子]

楼上的想问什么 不太明白 
是失真数值 还是什么?

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