标题：音箱的近场测试的一个问题

             音箱的近 场 测 试 问 题

近场测试是没有消声室时采用计算机测试系统时的一种常用的测试方法。

这种测试结果的正确性如何？我们从近场测试的结果里能能得到什么？

下面是《Stereophile(发烧天书)》里对一些著名的音箱做评测的时候的一些话：

此主题相关图片如下：image001.jpg

对于图6里的曲线的一些异常，文章里说：“低音单元在400~600Hz频域出现凹槽和乱波是由于近场测试方法所特有的干涉效应造成的。”

关于近场测试的依据，文章说：“近场响应测试技术是假定箱体诸单元的声波呈半球状辐射的。高频的深度较快，测量话筒里音箱越远，反射波影响直射波而致频率越高的声波被衰减的越多，因而低频就会显得突出，并非是被测音箱或单元的问题，而是近场测试技术本身的问题。

在2009-11期 的《高保真音响》，p,77的一篇对Audio Note的AN-E音箱的评测文章里，还提出：“不要忘记，上述曲线在低频上段（80~160Hz）因为近场测量技术的局限而有2pi(约6dB)的上扬，所以AN-E发出的低音并不像你看到的那样多。”

那么，从近场测试的结果里，我们可以得到什么？有什么局限？

请各位指教！