标题：高泄露测试条件下失真改善

1楼

zuiailgl 发表于：2008-6-23 17:09:46

各位请参考附件
测试条件为１７９mV　ＴＹＰＥ３.２高泄露仿真耳
产品为１２*０６受话器

在产品的Ｆ０处　约５００Hz 出现一个比较大的失真峰经过测试　此处的三次谐波有问题　８００HZ处的二次谐波有问题　各位有没有遇到过类似的问题的　
造成这样情况　大多是何种之原因

调试过振膜多次了　没有任何改进　峰的高度也很稳定　但是如何更改磁路呢　目前正苦于没有方案
特此求助　

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2楼

samjxz 发表于：2008-6-23 17:11:33

这种失真有多少

3楼

zuiailgl 发表于：2008-6-23 17:14:04

楼上的想问什么　不太明白　
是失真数值　还是什么？

4楼

水仙发表于：2008-6-23 17:23:51

此主题相关图片如下：thd1.jpg

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