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标题:做完信赖性寿命实验后SPL降低了

1楼
昱辰 发表于:2009-5-14 15:02:41
最近为了这款SPK弄的头都晕了,
20的SPK,在做完96H信赖性寿命实验后,测试时,发现SPL比没做实验前低了4DB,
音圈位处有发黑的现象,
不知道什么原因导致!
跪求请教DX们.!

今天更新了,再次做试验后,还是不行,音圈发黑,而且振膜的音圈位已经变形.
见图片
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2楼
钟灵 发表于:2009-5-14 15:20:35
改磁钢的材料吧
3楼
电声工程师 发表于:2009-5-14 20:50:52

首先要考虑到喇叭结构的散热,在散热上就要考虑到线材,(如是骨架音圈,同时也要考虑骨架的材质)等,及膜片的设计。

4楼
Dragon 发表于:2009-5-14 21:01:26

Magnet issue.

5楼
bugcainiao 发表于:2009-5-14 22:14:48

先测量阻抗吧,断定SPL的具体原因是阻抗大了还是磁铁性能降了
再来考虑比如磁铁的耐高温,以及音圈线的耐热等级等吧

6楼
昱辰 发表于:2009-5-15 11:57:44

散热是肯定够的,用的是振动喇叭的那种后盖和前盖.
而膜片的材质是PEN的,也应该可以顶住的.
看来需要在音圈和磁铁上找原因了!

7楼
sniper 发表于:2009-5-15 15:05:34

中心胶水也可能有问题啊

8楼
DSV 发表于:2009-5-15 17:03:34

磁鐵受熱後退磁. 我的產品也會這樣~~

請問該如何解決呢!! 磁鐵已經用帶H的了

9楼
昱辰 发表于:2009-5-19 11:20:41

还有一张呢!


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10楼
kempo 发表于:2009-5-19 17:36:43
 

F0有没有变化??有没有曲线先看一下比较好判断

11楼
BENSZ 发表于:2009-5-20 10:05:38
请告知音圈线材料型号
12楼
昱辰 发表于:2009-5-21 9:43:34

曲线已经变了,SPL降了,4DB,

13楼
水仙 发表于:2009-5-21 9:59:20
试验功率太大了,或试验信号(方法)不符合GB或IEC规范.
14楼
zuiailgl 发表于:2009-5-21 15:12:45
我的感觉
振膜受热变形 导致音圈位置变化
最终导致BL的变化
15楼
zuiailgl 发表于:2009-5-22 9:06:23
费工 什么观点 说出来 讨论下 
我感觉SPL的下降是因为振膜变形
但是音圈发黑的原因 我没有想
16楼
Dragon 发表于:2009-5-24 19:32:08
三个建议:
。B有无变化?
。R -CURVE 有无变化。
。M 有无变化移位,做些切片可看清。
17楼
ghy2652 发表于:2009-5-25 17:39:47
如果你用的是白噪声做的96H,功率0.8W及以上,那么你就很可能出现这个情况,如果你把音膜换成PEI的,那这个情况就很少,这个试验我做过很多次。
PEN的有好处有坏处,看选择而用。
18楼
理想之声 发表于:2009-5-26 7:57:23
是不是膜片跟音圈耐温过不了.导致音圈烧坏膜片变形
19楼
优优 发表于:2009-6-4 11:28:20
信赖性试验的电压是多少?做的是什么试验?白噪声?粉红噪声?正弦波?
你的振膜材质是PEN的,多厚的?
20楼
haibolee 发表于:2009-6-6 13:27:19
中心胶碳化了?膜片变形了?功率太大?F0太高?
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