微型扬声器也有低频(相对的),同样也有TS参数。同样可以测量:一般用附加容积法。原理和附加质量法类同。
[此贴子已经被作者于2009-06-29 20:02:17编辑过]
机电参数都会有,测试也方便,用LMS CLIO DAAS MLSSA等都可以。
使用这些 LMS CLIO DAAS MLSSA测试软件,可以直接测试出微型喇叭的TS参数吗?
若是测试这么方便的话,为什么微型喇叭的规格书上面一般不写出这些参数?
在线等回复。
以下是引用优优在2009-06-30 09:44:35的发言:
使用这些 LMS CLIO DAAS MLSSA测试软件,可以直接测试出微型喇叭的TS参数吗?
若是测试这么方便的话,为什么微型喇叭的规格书上面一般不写出这些参数?
在线等回复。
兄弟好好想想吧,做微型扬声器的又有几个懂得TS运用和测量的?
[此贴子已经被作者于2009-06-30 22:50:03编辑过]
以下是引用终极膜片设计师在2009-06-30 22:41:07的发言:
兄弟好好想想吧,做微型扬声器的又有几个懂得TS运用和测量的?
[此贴子已经被作者于2009-06-30 22:50:03编辑过]
此言差矣!
难道世界上这么多做微型喇叭的,没几个懂得TS参数?
那么一开始的时候谁先想起来制作微型喇叭?
谁能真正解决这个问题啊?
为何微型喇叭规格书上没有TS参数,是不准确、没必要写出来,还是测试不了?
测试确实很方便,问题是很多客户不会去用,甚至不知道TS参数是什么,包括我们的电声工程师.
给个CLIO测试的例子:
DATE 08-7-15
Fs 1038.1830
Fs Added Mass 1403.4370
Fs Known Vol 0.0013
Added Mass 0.0000
Known Vol 0.0013
Diameter 6.2100
ZMax 10.7549
ZMax Added Mass 0.0000
ZMax Known Vol 10.4966
Z F1F2 8.9812
Re 7.5000
Rms 0.0199
Qms 0.9445
Qes 2.1763
Qts 0.6586
Cms 8.1386
Mms 0.0029
BL 0.2548
VAS 0.0010
dBSPL 79.3147
L 1kHz 1.2030
L 10kHz 0.0779
CAS 7.466152E-12
RAS 2.173962E7
MAS 3147.7170
RAT 3.117434E7
SD 0.0000
LCES 0.5283
CMES 44.4842
RES 3.2549
MMD 0.0028
RMT 0.0286
eta 0.0515
Z Min 8.9094
Z AVG 9.0647
微型扬声器的TS参数不容易测准吧?超版是用负重还是附加容积测试的?据说KLIPPEL用激光测位移比较容易测准一些。TS参数主要用于设计低频响应,而对于微型扬声器来说,低频一般是不太好的,Fo已经到七八百甚至更高,相比其它参数,低频下限响应其实已经不太重要。TS参数主要用于质的改善,而对于大多数微型扬声器来说(除非用在耳机里),是还处在量的阶段,及有和无的问题,还没到质的阶段,所以对TS参数的使用不是太多。
即使是设计耳机,如果不需要用软件模拟设计的话其实也很少用到TS参数。而耳机设计的模拟软件很不好做,影响因素太多,所以全世界没有公开卖的耳机设计软件,所以设计耳机的人真正需要用TS参数来模拟的很少。一些人讨论问题的时候可能会说TS参数对耳机设计很重要,但真正有丰富实战经验的耳机设计人员恐怕用TS参数的时间不多。
当然这只是目前的一些现状,至于将来是否会改善不好说。
[此贴子已经被作者于2009-07-01 15:08:15编辑过]
以下是引用Eagle在2009-07-01 09:39:17的发言:微型扬声器的TS参数不容易测准吧?超版是用负重还是附加容积测试的?据说KLIPPEL用激光测位移比较容易测准一些。TS参数主要用于设计低频响应,而对于微型扬声器来说,低频一般是不太好的,Fo已经到七八百甚至更高,相比其它参数,低频下限响应其实已经不太重要。TS参数主要用于质的改善,而对于大多数微型扬声器来说(除非用在耳机里),是还处在量的阶段,及有和无的问题,还没到质的阶段,所以对TS参数的使用不是太多。
即使是设计耳机,如果不需要用软件模拟设计的话其实也很少用到TS参数。而耳机设计的模拟软件很不好做,影响因素太多,所以全世界没有公开卖的耳机设计软件,所以设计耳机的人真正需要用TS参数来模拟的很少。一些人讨论问题的时候可能会说TS参数对耳机设计很重要,但真正有丰富实战经验的耳机设计人员恐怕用TS参数的时间不多。
当然这只是目前的一些现状,至于将来是否会改善不好说。
[此贴子已经被作者于2009-07-01 15:08:15编辑过]
一般用附加容积法,附加质量法恐怕有点变 态吧。
还有一种办法,直接秤出振动部分质量(微型扬声器的话直接秤音圈加膜片加胶水的重量就比较接近了,因为不参与振动的膜片部分的质量是很轻的),然后带入公式计算TS参数。
[此贴子已经被作者于2009-07-01 23:08:20编辑过]
以下是引用Eagle在2009-07-01 23:06:54的发言:还有一种办法,直接秤出振动部分质量(微型扬声器的话直接秤音圈加膜片加胶水的重量就比较接近了,因为不参与振动的膜片部分的质量是很轻的),然后带入公式计算TS参数。
[此贴子已经被作者于2009-07-01 23:08:20编辑过]
用气压差的方式测试振动系统的等效顺性。
太有才了!
在低频到高频的过程中,振膜的振动也会由四周向中心移动
TS的测试之所以说它是针对低频的测试,因为低频的振动最接近于活塞振动,参与振动的质量也是比较容易统计的
我也没见过有微型喇叭或耳塞有测Ts的。。。
以下是引用Eagle在2009-07-01 23:06:54的发言:还有一种办法,直接秤出振动部分质量(微型扬声器的话直接秤音圈加膜片加胶水的重量就比较接近了,因为不参与振动的膜片部分的质量是很轻的),然后带入公式计算TS参数。
[此贴子已经被作者于2009-07-01 23:08:20编辑过]
请教前辈:
1.振动部分的质量就是指振膜+音圈+胶水吗?我正在手工测一款喇叭的TS参数。称得振膜+音圈+胶水质量0.12g。但是通过附加质量法得到Cms后计算得到的Mms却超过1g。
2.用恒流法测喇叭阻抗曲线,发现所加电压的大小对fo位置和Zmax的大小有非常大的影响。请问加多大电压测得的fo才是真正的fo?
3.在测量阻抗的时候是该把后腔的调音纸已经其他阻尼部分(我发现对阻抗影响很大)去掉还是保持喇叭原貌?如果保持原貌,是不是在等效电路里调音纸等部分就不加了?若加了是不是将其作用重复考虑了?
小子出入本行,道行浅薄,还请前辈不吝赐教,万分感谢!
[此贴子已经被作者于2012-08-14 17:33:37编辑过]
1、如果你搞得是微型的话,你称的Mmd可能比较接近,算出来的Mms包含了空气附加质量,但是没有那么大。Mms-Mmr=Mmd,Mmr=2.67*密度*有效半径的3次方。应该来说,附加质量法算出来的错误。对于微型来说,不管用附加质量,还是附加顺性引起的误差还是比较大的。
2、对于你的问题我给你提供一个参考资料《非线性参量对扬声器谐振频率的影响》,王富裕,杨忠德。里面的内容正适合你!
3、既然你测量阻抗曲线,肯定是成品测量了。成品是怎样就应该怎样测量。
我比较推荐用Klippel测量T/S参数,如果你认真学习Klippel的话你会对扬声器有新的认识,并且有耳目一新的感觉。就连Thiele都赞赏Klippel的创立者头脑清晰,对扬声器认识深刻。
以下是引用三人行在2012-08-14 18:45:16的发言:
1、如果你搞得是微型的话,你称的Mmd可能比较接近,算出来的Mms包含了空气附加质量,但是没有那么大。Mms-Mmr=Mmd,Mmr=2.67*密度*有效半径的3次方。应该来说,附加质量法算出来的错误。对于微型来说,不管用附加质量,还是附加顺性引起的误差还是比较大的。
2、对于你的问题我给你提供一个参考资料《非线性参量对扬声器谐振频率的影响》,王富裕,杨忠德。里面的内容正适合你!
3、既然你测量阻抗曲线,肯定是成品测量了。成品是怎样就应该怎样测量。
我比较推荐用Klippel测量T/S参数,如果你认真学习Klippel的话你会对扬声器有新的认识,并且有耳目一新的感觉。就连Thiele都赞赏Klippel的创立者头脑清晰,对扬声器认识深刻。
多谢前辈指教!
我测的喇叭,直径4cm,不知道算不算微型。您的意思是说不管附加质量法还是附加空气法都无法准确得出微型扬声器的Cms是吗?
您说的Klippel,我们这没有……我这里只有AP和soundcheck,那我现在有办法确定TS参数吗?
[此贴子已经被作者于2012-08-15 08:52:05编辑过]